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2.2 Emisión de rayos X inducida por partıculas (PIXE)

En esta técnica, se coloca una muestra delgada del material en un acelerador de partıculas y se bombardea con protones, partıculas $\alpha$ o iones pesados. La interacción produce ionización de los átomos del blanco, que emiten sus rayos X caracterısticos. Como la energıa de los rayos X depende del número atómico $Z$ del material, observando los rayos X emitidos podemos identificar los diversos elementos que componen el material. A partir de la intensidad de los rayos X se puede determinar la proporción relativa de los distintos elementos en la muestra.

Mediante esta técnica se pueden detectar cantidades del orden de $10^{-4}$ $\mu$g de material, lo que la hace comparable al NAA en cuanto a sensibilidad.

Figura 3: Espectro PIXE.
\begin{figure}\begin{center}
\includegraphics{t8pixe.ps}
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\end{figure}


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J.E. Amaro
2006-06-09