Imágenes de electrones secundarios (SEI)
De Reed, S.J.B., 2006. Electron Microprobe Analysis and
Scanning Electron Microscopy in Geology, 2e edition.
Cambridge University Press, Cambridge, 206 p.
Los electrones que originalmente residían en la muestra y que son
expulsados como electrones "secundarios" se distinguen de los
electrones retrodispersados por su mucha menor energía, siendo el
promedio de tan solo unos pocos electronvoltios (comparado con varias
decenas de keV de los electrones restrodispersados). Debido a su baja
energía, solo los electrones que se originan a pocos nanómetros de la
superficie logran escapar y poder ser detectados. Algunos de estos son producidos por
electrones incidentes al entrar en la muestra y otros por electrones retrodispersados al emerger. El coeficiente de electrones secundarios
se define como el número de electrones secundarios producidos por
electrón incidente. Su valor oscila entre 0.1 y 0.2 (aproximadamente) y
no varía uniformemente con Z. Para energías de electrones incidentes
inferiores a unos 5 keV, aumenta porque se concentra más energía cerca de
la superficie de la muestra, y también es mayor para la incidencia oblicua por la
misma razón.
Producción de electrones secundarios (SE): (a) por electrones incidentes
que entran en el objetivo; y (b) por electrones retrodispersados (BSE)
al salir.
Vea
SEM Petrology
Atlas, por
Joann E. Welton.
Imágenes SE de un montón de minerales.
Abajo, imágenes SEM de electrones secundarios representativas de minerales asbestiformes del
USGS Denver Microbeam Laboratory.
Chrysotile UICC Asbestos. Chrysotile 'A' standard
Tremolite asbestos. Death Valley, California
Anthophyllite Asbestos, Georgia
Winchite-richterite asbestos, Libby, Montana
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